2017.08.04 06:00立溝、森が第20回XAFS討論会で発表しました立溝(D1)と森(M1)が放射光X線を使った測定技術 ”X線吸収微細分光法(XAFS)” に関する会議であるXAFS討論会で発表してきました(立溝:口頭講演+ポスター発表、森:口頭講演)。@姫路、じばさんビル第20回XAFS討論会2017年8月4日(金)~ 6日(日) じばさんびる(姫路・西はりま地場産業センター) ・XAFS および関連現象に関する理論 ・XAFS および関連現象に関する解析手法 ・XAFS および関連現象に関する実験技術 ・XAFS の化学への応用 ・XAFS の物理への応用 ・XAFS の材料科学への応用 ・XAFS の生命科学への応用 ・XAFS の地球環境科学への応用 ・その他 XAFS 関連研究 ・招待講演1:高橋 幸生 氏 (大阪大) 「X線タイコグラフィーXAFSによるナノ構造・化学状態の可視化」 ・招待講演2:赤井 一郎 氏 (熊本大) 「放射光計測とデータ駆動科学の融合 -EXAFS解析を中心に-」 ・招待講演3:朝倉 清高 氏 (北海道大) 「X-ray absorption fine strucutre 過去、現在そして、みらい」 ・招待講演4:河村 直己 氏 (JASRI) 「共鳴X線発光分光による複合極限環境下での電子状態の研究」rud.spring8.or.jp今田研究室HPフォロー2017.09.19 04:37立溝がICSCRM2017で発表しました2017.08.03 06:00立溝がICDS-29で発表しました0コメント1000 / 1000投稿
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