立溝、森が第20回XAFS討論会で発表しました

立溝(D1)と森(M1)が放射光X線を使った測定技術 ”X線吸収微細分光法(XAFS)” に関する会議であるXAFS討論会で発表してきました(立溝:口頭講演+ポスター発表、森:口頭講演)。

@姫路、じばさんビル

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