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2017.08

2017.08.04 06:00

立溝、森が第20回XAFS討論会で発表しました

立溝(D1)と森(M1)が放射光X線を使った測定技術 ”X線吸収微細分光法(XAFS)” に関する会議であるXAFS討論会で発表してきました(立溝:口頭講演+ポスター発表、森:口頭講演)。@姫路、じばさんビル

2017.08.03 06:00

立溝がICDS-29で発表しました

立溝が国際会議 Intentional Conference of Defects in Semiconductor (ICDS) 2017で口頭発表しました。in松江

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